第8单元测验

1、单选题：
‌SEM扫描线圈的作用是‌
选项：
A: 使电子束发生聚焦，并在样品表面实现光栅扫描和角光栅扫描
B: 使电子束发生发散，并在样品表面实现光栅扫描和角光栅扫描
C: 使电子束发生衍射，并在样品表面实现光栅扫描和角光栅扫描
D: 使电子束发生偏转，并在样品表面实现光栅扫描和角光栅扫描
答案: 【 使电子束发生偏转，并在样品表面实现光栅扫描和角光栅扫描】

2、单选题：
​相比于背散射电子作为调制信号成像时的分辨率，二次电子的分辨率‌
选项：
A: 高
B: 低
C: 不具可比性
D: 有可比性，但需附加一些条件。
答案: 【 高】

3、单选题：
‍ 电子束作用物质的区域‌
选项：
A: 轻元素是倒梨状，重元素是半球状
B: 轻元素是半球状，重元素是倒梨状
C: 轻元素、重元素均是倒梨状
D: 轻元素、重元素均是半球状
答案: 【 轻元素是倒梨状，重元素是半球状】

4、单选题：
‍SEM的试样要求​
选项：
A: 导电
B: 绝缘
C: 表面光滑
D: 表面粗糙
答案: 【 导电】

5、单选题：
​SEM随着放大倍数的提高，电子束直径‍
选项：
A: 变细，强度增强
B: 变粗强度减弱
C: 不变
D: 变细，强度减弱
答案: 【 变细，强度增强】

6、单选题：
‍能谱仪是通过          对不同能量的特征X射线进行展谱的。‍
选项：
A: Si(Li)半导体晶体
B: 分光晶体
C: 计数器
D: 栅缝
答案: 【 分光晶体】

7、单选题：
‌高角环形暗场像的像衬度是​
选项：
A: 原子序数衬度像（或Z衬度像）
B: 衍衬衬度
C: 振幅衬度
D: 质厚衬度
答案: 【 原子序数衬度像（或Z衬度像）】

8、单选题：
​STEM用电子束在样品的表面扫描进行微观形貌分析时，探测器置于‌
选项：
A: 试样左上方，接受背散射电子束流荧光成像
B: 试样下方，接受透射电子束流荧光成像
C: 试样右上方，接受背散射电子束流荧光成像
D: 试样正上方，接受反射电子束流荧光成像
答案: 【 试样下方，接受透射电子束流荧光成像】

9、单选题：
‏电子探针对试样成分​
选项：
A: 只能定性分析
B: 只能定量分析
C: 既能定性分析又能定量分析
D: 既不能定性分析，也不能定量
答案: 【 既能定性分析又能定量分析】

10、单选题：
‎扫描电镜与电子探针结合可实现对试样的‏
选项：
A: 形貌、成分和结构的综合分析
B: 成分和结构的综合分析
C: 形貌和结构的综合分析
D: 成分和形貌的综合分析
答案: 【 成分和形貌的综合分析】

随堂测验

1、单选题：
‎1. 电子探针分析用的物理信号是电子束作用样品后产生的‍
选项：
A: （A）特征X射线
B: （B）二次电子
C: （C）背散射电子
D: （D）反冲电子
答案: 【 （A）特征X射线】

2、单选题：
‍2. 电子探针分析可分析微区的‌
选项：
A: （A）形貌
B: （B）衍射花样
C: （C）成分
D: （D）结构
答案: 【 （C）成分】

3、单选题：
‍3. 约翰逊（Johannson）分光晶体可完全聚焦，曲率半径为聚焦圆半径的‎
选项：
A: （A）1倍
B: （B）2倍
C: （C）1.5倍
D: （D）2.5倍
答案: 【 （A）1倍】

4、单选题：
‎4. 约翰（Johann）分光晶体不可完全聚焦，曲率半径为聚焦圆半径的‍
选项：
A: （A）1倍
B: （B）2倍
C: （C）2.5倍
D: （B）3倍
答案: 【 （B）2倍】

5、单选题：
‍5. 波谱仪是通过          对不同波长的特征X射线进行展谱的。‎
选项：
A: （A）计数器
B: （B）分光晶体
C: （C）栅缝
D: （D）Si(Li)半导体晶体
答案: 【 （B）分光晶体】

第9单元测验题

1、单选题：
‍元素的化学价态变化时会引起俄歇谱发生变化，主要表现在​
选项：
A: 峰形和峰位
B: 仅峰形
C: 仅峰位
D: 峰的强度，但峰形和峰位均无变化
答案: 【 峰形和峰位】

2、单选题：
​运用俄歇能谱分析元素的原子序数愈高，分析的灵敏度‎
选项：
A: 愈低
B: 愈高
C: 不变化
D: 振荡上升
答案: 【 愈低】

3、单选题：
​俄歇能谱分析试样表面的​
选项：
A: 成分
B: 结构
C: 形貌
D: 相浓度
答案: 【 成分】

4、单选题：
‌XPS中产生X射线源的靶材通常采用​
选项：
A: 轻元素Mg或Al
B: 重元素Pb
C: 重元素Co
D: 轻元素Be
答案: 【 轻元素Mg或Al】

5、单选题：
‎用于光电子能谱峰表征的三个量子数是‎
选项：
A: n,l ,j
B: n,l,m
C: l,j,m
D: j,n,m
答案: 【 n,l ,j】

6、单选题：
‌光电子的动能‏
选项：
A: 仅与光电子的结合能有关
B: 仅与入射X光子的能量有关
C: 既不与光电子的结合能有关，也不与入射X光子的能量有关
D: 不仅与光电子的结合能有关，还与入射X光子的能量有关
答案: 【 不仅与光电子的结合能有关，还与入射X光子的能量有关】

7、单选题：
​STM可用于表面‎
选项：
A: 形貌演变研究
B: 成分定性研究
C: 成分定量研究
D: 衍射研究
答案: 【 形貌演变研究】

8、单选题：
‏AFM 有多种工作模式，不属于其的工作模式是​
选项：
A: 接触模式
B: 非接触模式
C: 轻敲模式
D: 衍射模式
答案: 【 衍射模式】

9、单选题：
‌原子力显微镜观察对试样的导电性‎
选项：
A: 必须为导电体
B: 必须为绝缘体
C: 无要求
D: 必须为半导体
答案: 【 无要求】

10、单选题：
‍XPS可分析的元素为‏
选项：
A: H
B: He
C: H或He
D: H、He以外的所有元素
答案: 【 H、He以外的所有元素】

随堂测验

1、单选题：
‏1.LEED低能电子衍射的工作环境‎
选项：
A: （A）需具有超高真空度（<10-8Pa）
B: （B）仅需一般真空度
C: （C）仅需低真空度
D: （D）可以无需真空度
答案: 【 （A）需具有超高真空度（<10-8Pa）】

2、单选题：
‍2. LEED低能电子衍射可分析​
选项：
A: （A）表面几个微米层的微结构
B: （B）表面几个原子层的微形貌
C: （C）表面几个原子层的微成分
D: （D）表面几个原子层的微结构
答